DB65/T 3485-2013
太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
发布时间:2013-09-20 实施时间:2013-12-01
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太阳能是一种清洁、可再生的能源,而太阳能电池是太阳能利用的主要方式之一。太阳能电池的核心是太阳能级多晶硅块,其性能的好坏直接影响到太阳能电池的发电效率。而少数载流子寿命是评价太阳能级多晶硅块性能的重要指标之一。因此,本标准的制定对于太阳能电池的研究和生产具有重要意义。
本标准适用于太阳能级多晶硅块少数载流子寿命的测量。测量方法采用微波反射法,通过测量样品的微波反射系数,计算出样品的少数载流子寿命。本标准规定了测量方法的具体步骤和要求,包括样品制备、测量系统的搭建、测量参数的设置、测量数据的处理等。
本标准的实施需要一定的仪器设备和专业知识,建议在专业人员的指导下进行。同时,本标准也为太阳能电池的研究和生产提供了技术支持和标准化的参考。
相关标准:
1. GB/T 19519-2004 太阳能电池组件质量要求
2. GB/T 9535-2008 太阳能电池用硅片
3. GB/T 22487-2008 太阳能电池用硅片质量要求
4. GB/T 26930-2011 太阳能电池用硅片检验方法
5. DB65/T 3484-2013 太阳能级多晶硅块电学性能测量方法