DB61/T 512-2011
太阳电池用单晶硅片检验规则
发布时间:2011-04-20 实施时间:2011-05-01


太阳能电池是一种利用太阳能直接转换成电能的设备,其核心部件是太阳电池芯片。而太阳电池芯片的主要原材料是单晶硅片。因此,单晶硅片的质量直接影响到太阳能电池的性能和寿命。为了保证太阳能电池的质量,需要对单晶硅片进行严格的检验。本标准就是为了规范太阳电池用单晶硅片的检验而制定的。

1.检验方法
本标准规定了两种检验方法:外观检验和性能检验。其中,外观检验主要是通过目视和显微镜观察单晶硅片的表面和边缘,检查是否存在裂纹、划痕、气泡、污染等缺陷。性能检验则是通过测量单晶硅片的电学性能,包括开路电压、短路电流、填充因子等指标,来评估其质量。

2.检验项目
本标准规定了外观检验和性能检验的具体项目和要求。其中,外观检验包括单晶硅片的尺寸、形状、表面光洁度、边缘状态等方面的要求;性能检验则包括单晶硅片的开路电压、短路电流、填充因子、效率等指标的要求。

3.检验规定
本标准规定了单晶硅片的检验标准和判定方法。对于外观缺陷,根据其类型和数量,分为不合格、可修复和合格三种情况;对于性能指标,根据其与标准值的偏差程度,分为不合格、可修复和合格三种情况。同时,本标准还规定了检验批的划分和抽样方法。

4.检验记录
本标准规定了检验记录的内容和形式。对于每个检验批,应当记录其批号、数量、检验结果等信息,并保存至少两年。

相关标准:
1. GB/T 19519-2004 太阳电池组件产品质量检验规范
2. GB/T 9535-2008 太阳电池用多晶硅片检验规则
3. GB/T 22449-2008 太阳电池用硅片检验规则
4. GB/T 29768-2013 太阳电池用硅片质量控制规范
5. GB/T 29769-2013 太阳电池用硅片检验方法