DB44/T 1555-2015
高密度印制电路板的互连应力测试方法
发布时间:2015-03-26 实施时间:2015-06-26
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高密度印制电路板是现代电子产品中不可或缺的组成部分,其互连应力测试是保证电路板质量和可靠性的重要手段。本标准旨在规范高密度印制电路板互连应力测试的方法,以确保电路板的质量和可靠性。
1.测试设备
互连应力测试设备应符合以下要求:
(1)测试设备应具有足够的精度和稳定性,能够满足测试要求;
(2)测试设备应具有足够的测试通道,能够同时测试多个电路板;
(3)测试设备应具有足够的测试范围,能够满足不同尺寸和厚度的电路板测试要求。
2.测试方法
互连应力测试方法应符合以下要求:
(1)测试应在标准温度和湿度条件下进行;
(2)测试应在电路板制造完成后进行;
(3)测试应在电路板的最大负载下进行;
(4)测试应在电路板的最大温度下进行。
3.测试程序
互连应力测试程序应包括以下步骤:
(1)将电路板放置在测试设备上;
(2)设置测试参数,包括测试温度、湿度、负载等;
(3)开始测试,记录测试数据;
(4)测试结束后,对测试数据进行处理和分析。
4.测试结果的处理和报告
测试结果应包括以下内容:
(1)测试数据;
(2)测试结果的分析和评估;
(3)测试结论和建议。
相关标准:
GB/T 4729.2-2005 电子元器件试验方法 第2部分:试验方法的一般规定
GB/T 4729.3-2005 电子元器件试验方法 第3部分:机械试验方法
GB/T 4729.4-2005 电子元器件试验方法 第4部分:环境试验方法
GB/T 4729.5-2005 电子元器件试验方法 第5部分:可靠性试验方法
GB/T 4729.6-2005 电子元器件试验方法 第6部分:电性试验方法