电子元器件是现代电子技术的基础，其可靠性是保证电子产品正常运行的重要因素。为了保证电子元器件的可靠性，需要进行各种试验。DB43/T 126.55-1999 电子元器件可靠性试验方法是为了规范电子元器件可靠性试验而制定的标准。

该标准主要包括以下内容：

1. 环境试验：包括高温试验、低温试验、温度循环试验、湿热试验等。这些试验可以模拟电子元器件在不同环境下的工作条件，检测其在不同环境下的可靠性。

2. 机械试验：包括振动试验、冲击试验、跌落试验等。这些试验可以模拟电子元器件在运输、安装、使用过程中可能遇到的机械应力，检测其在机械应力下的可靠性。

3. 电气试验：包括电压应力试验、电流应力试验、电磁辐射试验等。这些试验可以模拟电子元器件在电气应力下的工作条件，检测其在电气应力下的可靠性。

4. 可靠性寿命试验：包括加速寿命试验、长期寿命试验等。这些试验可以模拟电子元器件在长期使用过程中可能遇到的应力，检测其在长期使用过程中的可靠性。

该标准的实施可以有效保证电子元器件的可靠性，提高电子产品的质量和可靠性。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法

GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验

GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验

GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分：试验Fh：盐雾试验

GB/T 2423.55-2006 环境试验 第55部分：试验Eh：电磁辐射试验