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电子元器件是现代电子技术的基础，其可靠性是保证电子产品正常运行的重要因素。为了评估电子元器件的可靠性，需要进行各种试验。其中，热应力试验是一种常用的试验方法。

DB43/T 126.39-1999标准规定了电子元器件在热应力试验中的试验方法和要求。该标准要求在试验过程中，应将电子元器件置于恒定的高温环境中，以模拟电子产品在高温环境下的使用情况。同时，还要对电子元器件进行恒定的电压或电流加载，以模拟电子产品在工作状态下的应力情况。

在热应力试验中，需要对电子元器件进行多次循环，以模拟电子产品在长时间使用过程中的应力情况。试验过程中，需要对电子元器件进行多项测试，包括电学性能测试、外观检查、尺寸测量等。通过这些测试，可以评估电子元器件在高温环境下的可靠性。

除了上述试验要求外，DB43/T 126.39-1999标准还规定了试验设备的要求、试验条件的选择、试验结果的评估等内容。这些要求都是为了保证试验的准确性和可靠性。

相关标准：
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分：试验Fh：热冲击试验方法
GB/T 2423.22-2008 环境试验 第22部分：试验N：恒湿热试验方法
GB/T 2423.34-2008 环境试验 第34部分：试验Z/AD：加速腐蚀试验方法