热冲击试验是一种常用的电子元器件可靠性试验方法，用于模拟元器件在极端温度变化下的可靠性表现。本标准规定了热冲击试验的试验方法和要求，以确保试验结果的可靠性和可重复性。

试验样品应当符合相关的元器件标准或者协议要求，并且应当在试验前进行充分的预处理，以确保试验结果的准确性。试验过程中，样品应当按照规定的温度和时间进行热冲击，同时应当记录样品的温度变化和试验结果。

本标准规定了热冲击试验的试验条件和试验方法，包括试验温度、试验时间、试验次数等。同时，还规定了试验结果的评估方法和要求，以确保试验结果的可靠性和可重复性。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验B：高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验Ca：恒湿热
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验Db：高温高湿
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验N：温度循环