DB35/T 1118-2011
抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件
发布时间:2011-03-07 实施时间:2011-06-01
:
抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件是一种重要的光学材料,广泛应用于激光技术、光通信、光信息处理等领域。为了保证该类元件的质量和性能,制定了DB35/T 1118-2011标准。
该标准主要包括以下内容:
1. 技术要求:规定了抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件的化学成分、晶体结构、光学性能、机械性能、表面质量等技术要求。
2. 试验方法:包括晶体生长、晶体切割、光学性能测试、机械性能测试、表面质量检验等试验方法。
3. 检验规则和标志:规定了抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件的检验规则和标志,包括检验方法、检验结果判定、标志等内容。
4. 包装、运输、贮存:规定了抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件的包装、运输、贮存要求,以确保元件在运输和贮存过程中不受损坏。
该标准的实施可以有效保证抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件的质量和性能,促进相关领域的发展。
相关标准:
GB/T 19666-2005 光学玻璃
GB/T 19667-2005 光学陶瓷
GB/T 19668-2005 光学晶体
GB/T 19669-2005 光学涂层
GB/T 19670-2005 光学仪器