石墨烯是一种新型的二维材料，具有优异的电学、热学、力学等性能，因此在电子器件、传感器、储能器件等领域有着广泛的应用前景。石墨烯薄膜的微区覆盖度是影响其性能的重要因素之一，因此需要对其进行测试。

本标准适用于石墨烯薄膜微区覆盖度测试的扫描电子显微镜法。测试前需要对样品进行处理，包括清洗、干燥等步骤。测试时需要选择合适的扫描电子显微镜参数，如加速电压、探针电流等，以获得清晰的图像。测试时需要选择多个不同位置进行测试，并计算平均值。

本标准规定了测试结果的计算方法，包括覆盖度的计算公式和误差的计算方法。同时，本标准还规定了测试结果的报告要求，包括测试日期、测试人员、测试设备等信息。

相关标准
- GB/T 19519-2004 石墨烯
- GB/T 19520-2004 石墨烯薄膜
- GB/T 19521-2004 石墨烯纳米带
- GB/T 19522-2004 石墨烯纳米管
- GB/T 19523-2004 石墨烯纳米片