DB21/T 1639.2-2008
城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器通用技术规范 第2部分:读写器技术规范
发布时间:2008-07-28 实施时间:2008-08-28


城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器是城市轨道交通系统中的重要组成部分,用于实现乘客进出站、乘车支付等功能。为了保证城市轨道交通系统的安全、稳定运行,需要对非接触式集成电路(IC)卡及读写器进行统一的技术规范。

本标准主要包括以下内容:

1. 术语和定义:对城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器中涉及的术语和定义进行了明确和解释,以便于标准的理解和应用。

2. 技术要求:对城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器的性能、功能、接口、通信协议、安全性等方面进行了详细的规定,确保其能够满足城市轨道交通系统的要求。

3. 测试方法:对城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器的测试方法进行了规定,包括测试设备、测试环境、测试流程等方面,以确保测试结果的准确性和可靠性。

4. 检验规则和标志:对城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器的检验规则和标志进行了规定,包括检验方法、检验标准、检验结果等方面,以确保产品的质量和安全性。

5. 包装、运输、贮存:对城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器的包装、运输、贮存进行了规定,包括包装材料、包装方式、运输条件、贮存条件等方面,以确保产品在运输和贮存过程中不受损坏。

本标准适用于城市轨道交通非接触式集成电路(IC)卡及读写器的设计、制造、检验、使用和维护等方面,是城市轨道交通系统中非接触式集成电路(IC)卡及读写器的技术规范。

相关标准:
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分:试验Ca:恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分:试验Db:低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分:试验Ea和Eb:跌落试验方法