DB13/T 5120-2019
光通信用 FP、 DFB 半导
体激光器芯片直流性
能测试规范
发布时间:2019-11-28 实施时间:2019-12-28
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光通信是一种高速、大容量、远距离传输信息的技术,而半导体激光器是光通信中最重要的光源之一。FP(Fabry-Perot)半导体激光器和DFB(Distributed Feedback)半导体激光器是目前应用最广泛的两种半导体激光器。FP半导体激光器具有较宽的谱宽和较高的输出功率,适用于短距离通信和光纤传感等领域;DFB半导体激光器具有较窄的谱宽和较高的光谱纯度,适用于长距离通信和光谱分析等领域。
FP、DFB半导体激光器的直流性能是其性能指标之一,直流性能测试是半导体激光器生产和应用中必不可少的环节。为了保证FP、DFB半导体激光器的直流性能符合要求,需要制定相应的测试规范。DB13/T 5120-2019《光通信用 FP、 DFB 半导体激光器芯片直流性能测试规范》就是为此而制定的。
该标准主要包括以下内容:
1.测试设备:包括直流电源、万用表、示波器、温度控制器等设备。
2.测试条件:包括测试温度、测试电流、测试时间等条件。
3.测试方法:包括测试前的准备工作、测试步骤、测试数据的记录等内容。
4.测试结果的处理:包括测试数据的处理、测试结果的判定等内容。
该标准的实施可以保证FP、DFB半导体激光器的直流性能测试结果的准确性和可靠性,为半导体激光器的生产和应用提供了重要的技术支持。
相关标准:
GB/T 24230-2009 光通信用半导体激光器
GB/T 24231-2009 光通信用半导体激光器模块
GB/T 24232-2009 光通信用半导体激光器芯片
GB/T 24233-2009 光通信用半导体激光器器件
GB/T 24234-2009 光通信用半导体激光器模块组件