金属涂层是一种常见的表面处理方法，可以提高金属材料的耐腐蚀性、耐磨性、导电性等性能。涂层的厚度是涂层性能的重要指标之一，因此需要对涂层厚度进行准确的测量。传统的涂层厚度测量方法包括划痕法、磁感应法、X射线荧光法等，但这些方法都存在一定的局限性，如精度不高、测量范围有限等。

ISO 9220:1988标准提出了一种使用扫描电子显微镜（SEM）测量金属涂层厚度的方法。该方法基于电子束与样品表面的相互作用，通过测量电子束穿透涂层的深度来计算涂层厚度。该方法具有以下优点：

1. 高精度：SEM可以实现亚微米级别的分辨率，可以测量非常薄的涂层厚度。

2. 非破坏性：SEM测量不需要对样品进行切割或破坏性处理，可以保持样品的完整性。

3. 大范围：SEM可以测量不同形状和大小的样品，适用于各种涂层类型。

4. 可重复性：SEM测量方法具有良好的可重复性和准确性，可以提高涂层质量的评估和控制。

SEM测量方法需要使用专业的设备和软件，需要对样品进行表面处理和样品制备。具体的测量步骤包括样品制备、SEM参数设置、图像获取和涂层厚度计算等。该标准详细描述了SEM测量方法的步骤和要求，以确保测量结果的准确性和可重复性。

相关标准
- ISO 1463:2003 金属涂层——测量涂层厚度——X射线荧光法
- ISO 2808:2007 涂料和清漆涂层——膜厚的测量
- ISO 2064:2010 金属和其他无机覆盖层——电镀和化学镀层——测量镀层厚度
- ASTM B568-98(2018) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry
- ASTM B499-18 Standard Test Method for Measurement of Coating Thicknesses by the Magnetic Method: Nonmagnetic Coatings on Magnetic Basis Metals