ISO 11421:1997标准规定了测量光学传递函数（OTF）的准确性要求。OTF是描述光学系统成像能力的重要参数，它反映了光学系统对不同空间频率的光信号的传递效率。OTF的测量准确性对于光学系统的性能评估和优化具有重要意义。

该标准要求OTF的测量误差应小于5％。为了达到这个要求，标准提出了一系列测量方法和要求。首先，测量设备应满足一定的要求，包括分辨率、灵敏度、线性度等。其次，测量过程中应注意一些影响测量准确性的因素，如环境温度、湿度、光源稳定性等。最后，标准还规定了OTF测量结果的分析方法和报告要求。

该标准适用于各种光学仪器，包括显微镜、望远镜、摄影机、扫描仪等。在这些光学仪器中，OTF是一个重要的性能指标，它直接影响成像质量和分辨率。因此，OTF的测量准确性对于光学系统的性能评估和优化具有重要意义。

除了ISO 11421:1997标准外，还有一些相关的标准和规范，如ISO 10110-19:2015光学元件和光学系统-表面缺陷-第19部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的测量、ISO 10110-18:2013光学元件和光学系统-表面缺陷-第18部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的分类、ISO 10110-17:2015光学元件和光学系统-表面缺陷-第17部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的限制等。这些标准和规范与ISO 11421:1997标准有着密切的关联，共同构成了光学元件和光学系统的标准体系。

相关标准
- ISO 10110-19:2015 光学元件和光学系统-表面缺陷-第19部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的测量
- ISO 10110-18:2013 光学元件和光学系统-表面缺陷-第18部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的分类
- ISO 10110-17:2015 光学元件和光学系统-表面缺陷-第17部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的限制
- ISO 10110-16:2015 光学元件和光学系统-表面缺陷-第16部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的评估
- ISO 10110-15:2015 光学元件和光学系统-表面缺陷-第15部分：光学元件的表面缺陷和缺陷密度的指定