表面纹理是指物体表面的形态和结构特征，通常用于描述表面的光洁度、粗糙度、波纹度、凹凸度等。在工业生产和质量控制中，表面纹理的测量是非常重要的一项工作。接触（探针）仪器是一种常用的表面纹理测量仪器，它通过接触物体表面并沿表面轮廓运动，测量出表面的形态和结构特征。然而，接触（探针）仪器的测量结果受到多种因素的影响，如仪器的垂直度、水平度、轴线偏差、探针力和探针半径等。因此，为了确保接触（探针）仪器的测量结果准确可靠，需要对其进行校准。

ISO 12179:2000标准规定了使用接触（探针）仪器进行表面纹理测量时的校准方法。该标准适用于使用轮廓法进行表面纹理测量的接触（探针）仪器，包括机械式和电子式仪器。该标准的目的是确保接触（探针）仪器的测量结果准确可靠，以便在工业生产和质量控制中使用。

该标准规定了接触（探针）仪器的校准方法，包括校准仪器的垂直度、水平度、轴线偏差、探针力和探针半径等参数。具体来说，校准过程中需要使用校准块、校准环和校准球等校准工件，通过测量校准工件的轮廓来确定接触（探针）仪器的各项参数。此外，该标准还规定了校准过程中应采用的测量方法和校准结果的评估方法。

需要注意的是，该标准只适用于使用轮廓法进行表面纹理测量的接触（探针）仪器。对于其他类型的表面纹理测量仪器，如光学式和激光式仪器，需要使用其他标准进行校准。

相关标准
- ISO 4287:1997 表面纹理：轮廓法-术语、定义和表面参数
- ISO 3274:1996 表面纹理：轮廓法-使用接触（探针）仪器进行测量的通用规则
- ISO 5436-1:2000 表面纹理：轮廓法-使用接触（探针）仪器进行测量的校准方法-第1部分：机械式仪器
- ISO 5436-2:2000 表面纹理：轮廓法-使用接触（探针）仪器进行测量的校准方法-第2部分：电子式仪器
- ISO 11562:1996 表面纹理：轮廓法-使用接触（探针）仪器进行测量的测量不确定度的评定方法