涂层厚度是涂层质量控制的重要参数之一。涂层厚度的测量方法有多种，其中β反散射法是一种常用的方法。ISO 3543:2000标准规定了使用β反散射法测量金属和非金属涂层厚度的方法。

β反散射法是一种非破坏性的测量方法，适用于测量涂层厚度在0.1μm至1mm之间的金属和非金属涂层。该方法使用β放射源和探测器，通过测量β粒子在涂层中的反散射来确定涂层厚度。该方法的优点是测量速度快、准确度高、适用范围广。

ISO 3543:2000标准规定了使用β反散射法测量涂层厚度的具体步骤和要求。其中包括测量仪器的要求、样品的准备、测量方法、数据处理等方面。该标准还规定了测量结果的报告要求，包括测量值、不确定度、测量条件等信息。

除了β反散射法，还有其他涂层厚度测量方法，如X射线荧光法、磁感应法、涂层剥离法等。这些方法各有优缺点，应根据具体情况选择合适的方法进行涂层厚度测量。

相关标准
- ISO 2808:2007 涂层和涂层系统的表面涂层厚度测量
- ISO 2178:2016 金属涂层——非破坏性测量——磁感应法
- ASTM B568-98(2018) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry
- ASTM D4138-07(2017) Standard Practices for Measurement of Dry Film Thickness of Protective Coating Systems by Destructive, Cross-Sectioning Means
- GB/T 4956-2003 金属涂层 厚度测量 β反散射法