光学元件散射辐射是指光线在经过光学元件时，由于光学元件表面的不规则性或材料的不均匀性等原因，部分光线被散射出去的现象。这种散射辐射会影响光学元件的透过率、反射率、偏振率等性能，因此需要进行测试和控制。

ISO 13696:2002规定了两种测试方法：直接测量法和间接测量法。直接测量法是指直接测量光学元件表面的散射辐射，通常使用散射光度计进行测量。间接测量法是指通过测量光学元件的透过率、反射率等性能来推算散射辐射，通常使用反射光度计或透过光度计进行测量。

ISO 13696:2002还规定了测试时的光源、光路、探测器等设备的要求，以及测试时的环境条件和数据处理方法等。该标准还对测试结果的误差进行了分析和控制，以确保测试结果的准确性和可靠性。

ISO 13696:2002的实施可以帮助光学元件制造商和使用者控制光学元件的散射辐射，提高光学元件的质量和性能。同时，该标准也为光学元件的测试和评价提供了一种标准化的方法，方便不同厂家和用户之间的比较和交流。

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