ISO 6342:2003
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
发布时间:2003-07-15 实施时间:
孔卡是一种用于存储微缩摄影图像的介质,它由一张卡片和一组孔洞组成。孔卡的堆积区是指孔洞周围的区域,它是用于存储图像信息的重要部分。堆积区的厚度对于孔卡的质量和可靠性至关重要,因此需要对其进行精确的测量。
ISO 6342:2003标准规定了测量孔卡堆积区厚度的方法。该标准要求使用一个精确的测厚仪来测量堆积区的厚度。测量时,需要将孔卡放置在测厚仪的测量台上,并将测量头放置在堆积区上。测量头应该与堆积区垂直,并且应该在堆积区的中心位置进行测量。测量时应该进行多次测量,并取平均值作为最终的测量结果。
ISO 6342:2003标准还规定了孔卡堆积区厚度的允许偏差。根据该标准,孔卡堆积区的厚度应该在0.15毫米到0.25毫米之间。如果堆积区的厚度超出了这个范围,那么孔卡就不能被认为是符合制造标准的。
ISO 6342:2003标准的实施可以保证孔卡的质量和可靠性。通过精确测量孔卡堆积区的厚度,可以确保孔卡的图像信息能够被准确地读取和存储。这对于一些需要长期保存图像信息的应用场合尤为重要,比如档案馆、图书馆等。
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