陶瓷薄膜在电子、光学、医疗等领域有着广泛的应用。为了确保陶瓷薄膜的质量和性能，需要对其厚度进行精确测量。ISO 18452:2005标准规定了使用接触探针轮廓仪测量陶瓷薄膜厚度的方法。

该标准要求使用接触探针轮廓仪进行测量，该仪器可以测量薄膜表面的形貌和厚度。在测量之前，需要对仪器进行校准，以确保测量结果的准确性。校准过程中需要使用标准样品进行比对，校准后才能进行实际测量。

在进行测量时，需要将陶瓷薄膜样品放置在测量台上，并将接触探针轮廓仪的探针轻轻接触到样品表面。然后，通过移动探针，测量薄膜表面的形貌和厚度。在测量过程中，需要注意探针的压力和移动速度，以确保测量结果的准确性和可重复性。

ISO 18452:2005标准适用于厚度在0.1微米至100微米之间的陶瓷薄膜。该标准的目的是为了确保测量结果的准确性和可重复性，以便对陶瓷薄膜的质量和性能进行评估和控制。

相关标准
- ISO 10545-2:1995 Ceramic tiles — Part 2: Determination of dimensions and surface quality
- ISO 10545-3:1995 Ceramic tiles — Part 3: Determination of water absorption, apparent porosity, apparent relative density and bulk density
- ISO 10545-4:1995 Ceramic tiles — Part 4: Determination of modulus of rupture and breaking strength
- ISO 10545-5:1995 Ceramic tiles — Part 5: Determination of impact resistance by measurement of coefficient of restitution
- ISO 10545-6:1995 Ceramic tiles — Part 6: Determination of resistance to deep abrasion for unglazed tiles