X射线光电子能谱是一种表面化学分析技术，可用于研究材料表面的化学成分和化学状态。在进行XPS分析时，需要确定背景信号，以便准确地测量样品中的化学成分。ISO/TR 18392:2005提供了一种确定XPS背景的程序，以确保分析结果的准确性和可重复性。

该标准中描述了两种确定XPS背景的方法：线性背景和Shirley背景。线性背景是通过在XPS谱图中选择两个不同能量的点，并在它们之间绘制一条直线来确定的。Shirley背景是通过拟合XPS谱图中的高能区域来确定的。这两种方法都可以用于确定XPS谱图中的背景信号。

此外，该标准还提供了一些实用的建议，以帮助分析人员正确地确定XPS背景。例如，建议在进行XPS分析之前，应先对仪器进行校准和标准化，以确保获得准确的分析结果。此外，还建议在进行XPS分析时，应使用高纯度的样品，并在分析过程中避免样品受到污染。

总之，ISO/TR 18392:2005提供了一种确定XPS背景的程序，以确保分析结果的准确性和可重复性。该标准还提供了一些实用的建议，以帮助分析人员正确地进行XPS分析。

相关标准
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