粒度分析是一种常用的分析技术，用于确定颗粒的大小分布和形状参数。在粒度分析中，实验曲线是一个重要的参数，它描述了颗粒的大小分布。然而，由于实验条件的不同，实验曲线可能会有所不同。因此，为了比较和分析不同实验条件下的结果，需要将实验曲线调整为参考模型。

ISO 9276-3:2008标准规定了将实验曲线调整为参考模型的方法。该标准要求使用最小二乘法将实验曲线与参考模型进行比较，并确定调整系数。参考模型是一种理论模型，它描述了颗粒的大小分布和形状参数。在实际应用中，可以选择不同的参考模型，以适应不同的颗粒形状和分布。

ISO 9276-3:2008标准还规定了调整系数的计算方法。调整系数是一种重要的参数，它描述了实验曲线与参考模型之间的差异。通过计算调整系数，可以确定颗粒的大小分布和形状参数。该标准还要求对调整系数进行统计分析，以确定其可靠性和精度。

ISO 9276-3:2008标准适用于粒度分析中的数据处理和结果表示。该标准的目的是提供一种标准化的方法，以便在不同实验条件下进行比较和分析。该标准适用于各种粒度分析技术，包括激光粒度分析、光学显微镜分析、电子显微镜分析等。

相关标准
- ISO 13320:2009 粒度分析——激光衍射法
- ISO 13322-1:2014 粒度分析——图像分析方法——第1部分：基本原理
- ISO 13322-2:2015 粒度分析——图像分析方法——第2部分：图像处理程序
- ISO 13322-3:2014 粒度分析——图像分析方法——第3部分：图像分析软件
- ISO 13322-4:2014 粒度分析——图像分析方法——第4部分：图像分析结果的表示