ISO 15472:2010
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectrometers — Calibration of energy scales
发布时间:2010-04-19 实施时间:


X射线光电子能谱仪是一种表面化学分析仪器,可用于分析材料表面的化学成分和化学状态。在X射线光电子能谱仪的分析过程中,需要对能量刻度进行校准,以确保分析结果的准确性和可重复性。ISO 15472:2010标准规定了X射线光电子能谱仪的能量刻度校准方法,包括能量刻度的线性性、能量分辨率和能量刻度的准确性。

能量刻度的线性性是指能量刻度与能量信号之间的线性关系。在能量刻度校准过程中,需要使用标准样品进行校准,以确保能量刻度的线性性。能量分辨率是指能量信号的分辨能力,也是X射线光电子能谱仪的重要性能指标之一。在能量刻度校准过程中,需要使用高分辨率的标准样品进行校准,以确保能量分辨率的准确性。

能量刻度的准确性是指能量刻度与实际能量之间的偏差。在能量刻度校准过程中,需要使用多个标准样品进行校准,以确保能量刻度的准确性。ISO 15472:2010标准规定了能量刻度校准的具体步骤和方法,包括标准样品的选择、能量刻度曲线的绘制和能量刻度的验证等。

ISO 15472:2010标准的实施可以确保X射线光电子能谱仪的能量刻度准确可靠,从而保证分析结果的准确性和可重复性。该标准适用于各种类型的X射线光电子能谱仪,包括单色光源X射线光电子能谱仪和非单色光源X射线光电子能谱仪等。

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