表面纹理是指物体表面的微观形貌，通常用于描述表面的光洁度、粗糙度、波纹度等特征。表面纹理对于许多工业应用非常重要，如汽车制造、航空航天、电子设备等。因此，表面纹理的测量和评估也变得越来越重要。

ISO 25178-602:2010是一项关于表面纹理的标准，主要针对非接触式探头进行三维测量。这种探头通常采用光学测量原理，如共焦色差探头。与传统的接触式探头相比，非接触式探头具有测量速度快、不会损伤被测物体等优点。

该标准规定了非接触式探头的标称特性，包括测量范围、分辨率、重复性、线性度等。这些特性对于探头的性能和测量结果的准确性都有重要影响。例如，测量范围决定了探头可以测量的表面大小，分辨率决定了探头可以检测到的最小表面特征。

此外，ISO 25178-602:2010还规定了测量结果的表示方法和报告格式。测量结果通常以三维图形的形式呈现，可以显示表面高度、坡度、曲率等信息。报告格式包括测量条件、测量结果、不确定度等内容，以确保测量结果的可靠性和可比性。

ISO 25178-602:2010的发布，标志着表面纹理测量的标准化进程迈出了重要一步。该标准为表面纹理测量提供了统一的标准和方法，有助于不同领域的研究人员和工程师进行表面纹理的测量和评估。

相关标准
- ISO 4287:1997 表面纹理：轮廓法
- ISO 13565-2:1996 表面纹理：过滤法
- ISO 16610-31:2016 表面纹理：过滤法
- ISO 25178-1:2016 表面纹理：面积法
- ISO 25178-7:2015 表面纹理：面积法