ISO/TR 14880-5:2010标准主要包括以下内容：

1. 测试方法
该标准介绍了微透镜阵列的测试方法，包括透镜直径、透镜间距、透镜表面形状、透镜表面质量等参数的测试方法。其中，透镜直径和透镜间距的测试可以使用光学显微镜、扫描电子显微镜等设备进行。透镜表面形状和表面质量的测试可以使用干涉仪、激光扫描仪等设备进行。

2. 测试结果的分析
该标准介绍了微透镜阵列测试结果的分析方法，包括透镜直径、透镜间距、透镜表面形状、透镜表面质量等参数的分析方法。其中，透镜直径和透镜间距的分析可以使用统计学方法进行。透镜表面形状和表面质量的分析可以使用曲率半径、表面偏差等参数进行。

3. 测试的误差和不确定度
该标准介绍了微透镜阵列测试的误差和不确定度的计算方法。其中，误差包括系统误差和随机误差。不确定度包括标准不确定度和扩展不确定度。

4. 测试的应用
该标准介绍了微透镜阵列测试的应用，包括光学成像、光学通信、光学传感等领域。微透镜阵列的测试结果可以用于优化微透镜阵列的设计和制造过程，提高微透镜阵列的光学性能。

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