ISO 16526-2:2011
Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 2: Constancy check by the thick filter method
发布时间:2011-12-15 实施时间:


ISO 16526-2:2011标准规定了使用厚滤波器法进行X射线管电压稳定性检查的方法。该方法通过测量X射线管在不同电压下的透射率来评估X射线管的电压稳定性。该方法需要使用一个厚滤波器,该滤波器的材料和厚度应根据X射线管的电压范围和应用要求进行选择。

在进行稳定性检查之前,需要对X射线设备进行预热,并确保设备已经达到稳定状态。然后,需要使用一个标准的测试对象进行测试,该测试对象应该具有与实际测试对象相似的吸收特性。测试对象应该放置在X射线管和探测器之间,并且应该与X射线管的轴线垂直放置。

在进行测试之前,需要根据测试对象的吸收特性和X射线管的电压范围选择合适的厚滤波器。然后,需要在不同的电压下进行测试,并记录每个电压下的透射率。测试应该在每个电压下进行多次,并计算平均值和标准偏差。

根据测试结果,可以评估X射线管的电压稳定性。如果测试结果符合规定的标准,则X射线管的电压稳定性可以得到保证。如果测试结果不符合规定的标准,则需要进行进一步的调整和校准。

ISO 16526-2:2011标准的实施可以确保X射线设备的稳定性和准确性,从而保证测试结果的准确性和可靠性。该标准适用于X射线设备的常规维护和校准,以确保设备的稳定性和准确性。

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