ISO 13099-2:2012标准中，光学方法是一种常用的测定ζ电位的方法。该方法基于光电测量原理，通过测量粒子在电场中的运动速度和方向，计算出粒子表面的ζ电位。具体步骤如下：

1. 准备样品：将待测样品制备成适当的浓度和pH值，并在测量前充分搅拌均匀。

2. 装置测量仪器：将样品注入测量仪器中，并按照仪器说明书进行装置和校准。

3. 测量样品：通过激光束照射样品，观察粒子在电场中的运动轨迹，并记录粒子的运动速度和方向。

4. 计算ζ电位：根据粒子的运动速度和方向，使用适当的公式计算出粒子表面的ζ电位。

除了上述步骤外，ISO 13099-2:2012标准还对测量仪器的要求进行了详细说明，包括仪器的精度、灵敏度、稳定性和校准方法等。此外，标准还对样品的处理、测量条件和数据处理等方面进行了要求，以确保测量结果的准确性和可重复性。

ISO 13099-2:2012标准的实施可以帮助用户了解粒子表面的ζ电位，从而预测粒子的稳定性和相互作用。该标准适用于各种类型的粒胶体系列，包括液体、固体和气体中的颗粒和胶体。此外，该标准还可以用于研究和开发新型材料、药物和化妆品等领域。

相关标准
- ISO 13099-1:2012 粒胶体系列——测定ζ电位的方法——第1部分：电动势法
- ISO 13099-3:2012 粒胶体系列——测定ζ电位的方法——第3部分：电阻率法
- ISO 22412:2008 粒胶体系列——测定粒子大小分布的方法——动态光散射法
- ISO 13317-1:2014 粒胶体系列——测定粒子大小分布的方法——第1部分：激光光散射法
- ISO 13321:2011 粒胶体系列——测定粒子大小分布的方法——动态光散射法