光学存储卡是一种使用光学记录技术存储数据的存储介质。光学存储卡通常采用线性记录方法，即将数据记录在光学存储介质的一个线性轨道上。为了确保不同厂家生产的光学存储卡之间的互操作性和可靠性，ISO/IEC 11694-2:2012标准规定了光学存储卡的线性记录方法中可访问光学区域的尺寸和位置。

可访问光学区域是指光学存储卡上可以被读写设备读取或写入数据的区域。该区域通常位于光学存储卡的表面，并且具有一定的尺寸和位置要求。ISO/IEC 11694-2:2012标准规定了可访问光学区域的尺寸和位置，以确保光学存储卡的互操作性和可靠性。

ISO/IEC 11694-2:2012标准规定了光学存储卡的尺寸、形状、表面特征和标识等方面的要求。其中，光学存储卡的尺寸和形状要求符合ISO/IEC 7810标准中的ID-1规定，即85.60mm×53.98mm。光学存储卡的表面特征要求符合ISO/IEC 7811-1标准中的规定，包括表面平整度、表面粗糙度、表面清洁度等方面的要求。光学存储卡的标识要求符合ISO/IEC 7816-1标准中的规定，包括卡片标识、卡片类型、卡片制造商等方面的要求。

ISO/IEC 11694-2:2012标准还规定了光学存储卡可访问光学区域的位置要求。光学存储卡的可访问光学区域应该位于光学存储卡的中心线上，并且距离光学存储卡的边缘一定的距离。具体来说，光学存储卡的可访问光学区域应该位于光学存储卡的中心线上，距离光学存储卡的长边边缘不得小于2.5mm，距离光学存储卡的短边边缘不得小于1.5mm。

ISO/IEC 11694-2:2012标准的实施可以确保不同厂家生产的光学存储卡之间的互操作性和可靠性。该标准的实施还可以促进光学存储卡的应用和推广，为用户提供更加便捷、可靠的数据存储解决方案。

相关标准
- ISO/IEC 7810:2003 Identification cards — Physical characteristics
- ISO/IEC 7811-1:2014 Identification cards — Recording technique — Part 1: Embossing
- ISO/IEC 7816-1:2018 Identification cards — Integrated circuit cards — Part 1: Physical characteristics
- ISO/IEC 10373-1:2016 Identification cards — Test methods — Part 1: General information
- ISO/IEC 15416:2016 Information technology — Automatic identification and data capture techniques — Bar code print quality test specification — Linear symbols