表面化学分析是一种广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域的分析技术，它可以用来研究材料表面的化学成分、结构、形貌等信息。在表面化学分析中，横向分辨率和锐度是两个非常重要的参数，它们决定了分析结果的精度和可靠性。因此，准确测量和评估横向分辨率和锐度是表面化学分析中的一个关键问题。

ISO/TR 19319:2013提供了一些基本的方法和指导，帮助用户确定横向分辨率和锐度。其中，横向分辨率是指在样品表面上两个相邻的特征之间的最小距离，而锐度是指特征边缘的陡峭程度。这两个参数可以通过不同的技术和方法来测量，如SEM、TEM、AFM等。

在ISO/TR 19319:2013中，提供了一些实用的建议和指导，帮助用户选择合适的技术和方法来测量横向分辨率和锐度。例如，对于SEM技术，建议使用高放大倍率和低电子束能量来提高分辨率和锐度；对于TEM技术，建议使用高分辨率的透射电子显微镜和薄样品来提高分辨率和锐度；对于AFM技术，建议使用高质量的探针和适当的扫描参数来提高分辨率和锐度。

此外，ISO/TR 19319:2013还提供了一些实用的公式和计算方法，帮助用户计算横向分辨率和锐度。这些公式和计算方法可以用于不同的技术和方法，如SEM、TEM、AFM等。

总之，ISO/TR 19319:2013为表面化学分析提供了一些基本的方法和指导，帮助用户确定横向分辨率和锐度。这些方法和指导可以用于不同的技术和方法，如SEM、TEM、AFM等。通过准确测量和评估横向分辨率和锐度，可以提高表面化学分析的精度和可靠性，为材料科学、化学、生物学等领域的研究提供有力支持。

相关标准
- ISO 18115-1:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱（XPS）——第1部分：术语和定义
- ISO 18115-2:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱（XPS）——第2部分：仪器性能规范和检验方法
- ISO 18115-3:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱（XPS）——第3部分：数据处理
- ISO 18116:2015 表面化学分析——扫描电子显微镜（SEM）——术语和定义
- ISO 18434-1:2008 机械设备和系统——机械振动诊断——第1部分：基本原理