光学系统和光学元件的表征是光学和光子学领域中的重要问题。波前传感器是一种用于测量光学系统和光学元件波前形状的仪器，可以提供有关光学系统和光学元件的信息，如像差、畸变、散焦等。波前传感器的应用范围非常广泛，包括天文学、医学、工业制造等领域。

ISO/TR 16743:2013介绍了波前传感器的基本原理和分类。波前传感器可以分为接触式和非接触式两种类型。接触式波前传感器需要与被测物理接触，如 Shack-Hartmann 波前传感器和接触式扫描式波前传感器；非接触式波前传感器则不需要与被测物理接触，如干涉式波前传感器和全息式波前传感器。不同类型的波前传感器有不同的优缺点，用户需要根据具体应用场景选择合适的波前传感器。

ISO/TR 16743:2013还介绍了波前传感器的性能指标。波前传感器的性能指标包括测量精度、测量范围、测量速度、灵敏度等。用户需要根据具体应用场景选择合适的波前传感器，并根据波前传感器的性能指标进行合理的使用和调整。

ISO/TR 16743:2013提供了一些波前传感器的实例和建议，以帮助用户选择和使用波前传感器。例如，对于需要测量大范围波前形状的应用场景，可以选择非接触式波前传感器；对于需要高精度测量的应用场景，可以选择接触式波前传感器。此外，用户还需要注意波前传感器的校准和维护，以确保波前传感器的准确性和稳定性。

相关标准
- ISO 10110-5:2019 光学元件和光学系统——零件5：表面形状公差
- ISO 10110-6:2019 光学元件和光学系统——零件6：表面质量公差
- ISO 10110-7:2019 光学元件和光学系统——零件7：表面缺陷公差
- ISO 10110-8:2019 光学元件和光学系统——零件8：表面光学特性公差
- ISO 10110-9:2019 光学元件和光学系统——零件9：涂层公差