ISO 19012-1:2013
Microscopes — Designation of microscope objectives — Part 1: Flatness of field/Plan
发布时间:2013-05-14 实施时间:
ISO 19012-1:2013标准主要关注显微镜物镜的场平整度/平面。场平整度是指物镜在视场内各点的像平面与视场中心的像平面之间的偏差。场平整度是显微镜成像质量的重要指标之一,对于显微镜的成像质量和精度有着重要的影响。
该标准规定了物镜的场平整度/平面的定义、测量方法和报告要求。其中,物镜的场平整度/平面的定义是指物镜在视场内各点的像平面与视场中心的像平面之间的偏差。测量方法包括使用平面测试板或者其他适当的测试方法进行测量。报告要求包括测量结果的记录和报告,以及对于不同类型的物镜,报告要求的具体内容也有所不同。
除了以上内容,该标准还规定了物镜的命名方法。物镜的命名应包括物镜倍数、数值孔径和场平整度/平面。其中,场平整度/平面应按照该标准的要求进行测量和报告。
总之,ISO 19012-1:2013标准对于显微镜物镜的场平整度/平面进行了详细的规定,为显微镜成像质量的提高提供了重要的指导。
相关标准
ISO 8039:2002 显微镜——物镜的数值孔径的测量方法
ISO 10934:2012 显微镜——物镜的倍数的测量方法
ISO 10935:2012 显微镜——物镜的工作距离的测量方法
ISO 10936:2012 显微镜——物镜的视场的测量方法
ISO 10937:2012 显微镜——物镜的像差的测量方法