ISO 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
发布时间:2013-12-13 实施时间:
微束分析和分析电子显微镜是一种用于研究材料的高级技术。这些技术可以提供有关材料的微观结构和化学成分的详细信息。微束分析和分析电子显微镜在材料科学、地质学、生物学、医学和环境科学等领域中得到广泛应用。
ISO 15932:2013标准包含了与微束分析和分析电子显微镜相关的术语、定义和符号。该标准的主要目的是提供一个统一的术语表,以便在微束分析和分析电子显微镜领域中进行交流和理解。该标准的术语表包括了与样品制备、显微镜操作、数据分析和结果解释等方面相关的术语。
该标准的术语表包括了以下方面的术语:
1. 样品制备:包括样品的制备、切割、磨削和抛光等方面的术语。
2. 显微镜操作:包括电子束的生成、聚焦、扫描和探测等方面的术语。
3. 数据分析:包括数据采集、处理和解释等方面的术语。
4. 结果解释:包括图像解释、化学成分分析和晶体学分析等方面的术语。
该标准还包括了与微束分析和分析电子显微镜相关的符号和单位。这些符号和单位用于描述样品的化学成分、结构和性质等方面的信息。
总之,ISO 15932:2013标准为微束分析和分析电子显微镜领域提供了一个统一的术语表,有助于在这个领域中进行交流和理解。
相关标准
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- ISO 14644-1:2015 纯净室和相关受控环境的分类
- ISO 9001:2015 质量管理体系要求
- ISO 14971:2019 医疗器械风险管理
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