微束分析是一种非常重要的分析技术，可以用于研究材料的成分、结构和性质等。其中，电子探针微区分析是一种常用的微束分析方法，可以通过测量样品中的X射线谱来确定样品中元素的种类和含量。波长色散X射线光谱定性点分析是电子探针微区分析中的一种常见方法，可以用于确定样品中元素的种类。

ISO 17470:2014提供了一种标准化的方法，以确保在不同实验室和设备上进行的分析结果具有可比性和可重复性。该标准详细介绍了电子探针微区分析中波长色散X射线光谱定性点分析的操作方法和注意事项，包括样品制备、电子探针的操作方法和参数设置、定性点分析等。

在进行波长色散X射线光谱定性点分析前，需要对样品进行制备。样品制备的方法和注意事项对于分析结果的准确性和可重复性非常重要。该标准详细介绍了样品制备的方法和注意事项，包括样品的选择、制备、处理等。

在进行电子探针微区分析时，需要对电子探针进行正确的操作和参数设置。该标准详细介绍了电子探针的操作方法和参数设置，包括电子束的加速电压、电流、聚焦、扫描等参数的设置。

在进行定性点分析时，需要选择分析点、选择元素线和峰、进行峰拟合等。该标准详细介绍了如何进行定性点分析，包括选择分析点的方法、选择元素线和峰的方法、进行峰拟合的方法等。

除了以上内容，该标准还提供了一些常见问题的解决方法和注意事项，以帮助分析人员更好地进行波长色散X射线光谱定性点分析。

相关标准
ISO 22309:2017 微束分析-电子探针微区分析-扫描电子显微镜图像分析指南
ISO 22310:2017 微束分析-电子探针微区分析-能谱分析指南
ISO 22311:2017 微束分析-电子探针微区分析-线扫描分析指南
ISO 22312:2017 微束分析-电子探针微区分析-面扫描分析指南
ISO 22313:2017 微束分析-电子探针微区分析-定量点分析指南