ISO 17861:2014标准是针对细陶瓷薄膜的光学性能测量而制定的。细陶瓷薄膜是一种厚度小于10微米的薄膜，由氧化物、非氧化物和复合材料制成。这些薄膜通常用于光学器件、传感器、电子器件和涂层等领域。

该标准规定了在湿度条件下测量细陶瓷薄膜光谱透过率的方法。在实验过程中，需要将细陶瓷薄膜置于恒温恒湿的环境中，以模拟实际使用条件。然后，使用光谱仪测量透过薄膜的光谱，并计算出透过率。

该标准的目的是为了提供一种可重复、准确的测量方法，以便评估细陶瓷薄膜的光学性能。这对于制造高质量的光学器件和电子器件非常重要。通过使用该标准，可以确保细陶瓷薄膜的光学性能符合要求，并且可以进行有效的质量控制。

除了测量方法外，该标准还规定了实验条件、仪器要求和数据处理方法。这些要求确保了实验的可重复性和准确性。此外，该标准还提供了一些实用的建议，以帮助实验人员正确地进行实验。

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