IEC/TS 62607-2-1:2012
Nanomanufacturing - key control characteristics for CNT film applications - Resistivity — Part 2-1:
发布时间:2015-05-22 实施时间:


碳纳米管是一种具有优异性能的纳米材料,广泛应用于电子、光电、生物医学等领域。碳纳米管薄膜是由碳纳米管组成的薄膜,具有优异的导电性、导热性和机械性能,是一种重要的功能性材料。然而,碳纳米管薄膜的制备过程中存在着很多难以控制的因素,如碳纳米管的尺寸、形态、结构等,这些因素会直接影响到薄膜的性能和稳定性。因此,需要制定一些关键控制特性的标准,以确保碳纳米管薄膜应用的质量和稳定性。

IEC/TS 62607-2-1:2012是一项关于纳米制造中碳纳米管薄膜应用的关键控制特性的标准。该标准主要涉及电阻率的测量和控制。电阻率是衡量碳纳米管薄膜导电性能的重要指标,也是影响薄膜性能和稳定性的关键因素之一。该标准规定了电阻率的测量方法和要求,包括测量设备、测量条件、样品制备等方面的要求。同时,该标准还规定了电阻率的控制要求,包括控制范围、控制精度等方面的要求。通过对电阻率的测量和控制,可以有效地控制碳纳米管薄膜的质量和稳定性,确保其在应用中的性能和可靠性。

除了电阻率的测量和控制,IEC/TS 62607-2-1:2012还规定了其他一些关键控制特性,如碳纳米管的尺寸、形态、结构等。这些特性对于薄膜的性能和稳定性同样具有重要影响,需要在制备过程中进行控制。该标准为碳纳米管薄膜的制备和应用提供了一些重要的指导和参考,有助于提高碳纳米管薄膜的质量和稳定性,推动其在各个领域的应用。

相关标准
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