ISO/TS 18507:2015
Surface chemical analysis — Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis
发布时间:2015-07-22 实施时间:
全反射X射线荧光光谱法是一种非破坏性的表面分析技术,可用于分析各种材料的表面成分和结构。该技术基于X射线的全反射现象,将X射线束垂直入射样品表面,使得只有表面层的原子和分子能够吸收和发射荧光光子,从而实现对表面成分的分析。全反射X射线荧光光谱法具有分析速度快、分析精度高、样品制备简单等优点,因此在生物和环境分析中得到了广泛应用。
ISO/TS 18507:2015规定了全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的应用要求。该标准要求使用全反射X射线荧光光谱法进行生物和环境样品的分析时,应该选择合适的仪器设备,并按照标准规定的样品制备方法进行样品处理。在分析过程中,应该注意控制分析条件,避免干扰因素的影响。分析结果应该经过数据处理和质量控制,确保分析结果的准确性和可靠性。
ISO/TS 18507:2015适用于生物和环境样品的分析,包括但不限于水、土壤、植物、动物等样品的分析。该标准适用于实验室和现场分析,可用于环境监测、食品安全、药物研发等领域。
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