涂层膜厚是涂层技术中一个非常重要的参数，它直接影响到涂层的性能和质量。因此，准确地测量涂层膜厚是非常必要的。超声波测量是一种常用的涂层膜厚测量方法，它具有非接触、快速、准确等优点。ISO/TS 19397:2015规定了使用超声波测量仪器测量涂层膜厚的方法和步骤，以及对测量结果的评估和报告要求。

该标准规定了超声波测量仪器的技术要求，包括发射器、接收器、探头等。同时，还规定了测量前的准备工作，包括样品表面的处理、探头的校准等。在测量过程中，需要注意探头与样品表面的距离、探头的位置、测量时间等因素。测量完成后，需要对测量结果进行评估和报告，包括测量误差、测量不确定度等指标。

ISO/TS 19397:2015适用于各种类型的涂层，包括有机涂层、无机涂层、金属涂层等。该标准适用于涂层膜厚在0.1mm以下的测量，对于厚度超过0.1mm的涂层，需要使用其他测量方法。

相关标准
- ISO 2808:2007 涂层膜厚的测量
- ISO 1463:2003 金属和非金属涂层的测量
- ASTM D6132-16 涂层膜厚的测量
- GB/T 4956-2003 金属和非金属涂层的测量
- JIS K 5600-1-7:2005 涂层膜厚的测量