ISO 19618:2017标准规定了使用FTIR光谱仪和黑体参考测量高级陶瓷法向光谱发射率的方法。该标准适用于测量温度在300K至1500K之间的高级陶瓷材料的法向光谱发射率。该标准的目的是为了提供一种可重复、准确的测量方法，以便在高级陶瓷材料的研究和应用中使用。

该标准要求使用FTIR光谱仪和黑体参考来测量高级陶瓷材料的法向光谱发射率。在测量过程中，需要将样品放置在黑体参考上，并使用FTIR光谱仪测量样品的光谱反射率和黑体参考的光谱辐射率。通过比较样品的光谱反射率和黑体参考的光谱辐射率，可以计算出样品的法向光谱发射率。

该标准还规定了测量过程中需要注意的一些问题。例如，需要确保样品和黑体参考之间的距离足够近，以便减少测量误差。此外，还需要注意光谱仪的分辨率和信噪比，以确保测量结果的准确性。

总之，ISO 19618:2017标准提供了一种可靠的方法来测量高级陶瓷材料的法向光谱发射率。该标准的实施可以提高高级陶瓷材料的研究和应用的准确性和可靠性。

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