ISO 19668:2017标准是一项关于表面化学分析的标准，主要针对X射线光电子能谱（XPS）技术进行均质材料中元素的检测限估算和报告。该标准适用于使用XPS技术进行表面化学分析的实验室和机构。

X射线光电子能谱是一种表面分析技术，可以用于分析材料表面的化学成分和化学状态。该技术通过照射样品表面的X射线，使样品表面的原子发生光电子发射，然后通过测量光电子的能量和数量来确定样品表面的化学成分和化学状态。XPS技术广泛应用于材料科学、化学、物理、电子学、生物医学等领域。

ISO 19668:2017标准规定了使用XPS技术进行均质材料中元素的检测限估算和报告的方法。该标准要求实验室和机构在进行XPS分析时，必须采用标准化的方法进行样品制备、仪器校准和数据处理。在进行检测限估算时，必须考虑到样品制备、仪器校准和数据处理等因素对检测限的影响，并采用统计学方法进行计算和报告。

ISO 19668:2017标准的实施可以提高XPS技术的可靠性和准确性，保证XPS分析结果的可比性和可重复性。该标准的实施还可以促进XPS技术在材料科学、化学、物理、电子学、生物医学等领域的应用和发展。

相关标准
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ISO 18115-2:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱——第2部分：仪器性能规范和检验方法
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ISO 18115-4:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱——第4部分：样品制备
ISO 18115-5:2016 表面化学分析——X射线光电子能谱——第5部分：质量保证和质量控制