ISO 10110-7:2017
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 7: Surface imperfections
发布时间:2017-08-16 实施时间:
ISO 10110-7:2017标准主要针对光学元件表面缺陷的制图要求进行规定。该标准定义了表面缺陷的概念,包括缺陷的类型、形状、大小、位置和数量等。同时,该标准还对表面缺陷进行了分类,包括表面缺陷的类型、形状和大小等。
在制图方面,该标准规定了表面缺陷的测量方法和制图要求。其中,测量方法主要包括目视检查、显微镜检查和光学检查等。制图要求主要包括缺陷的位置、形状、大小和数量等。
此外,该标准还规定了表面缺陷的允许值和评定方法。允许值是指在光学元件制造过程中,表面缺陷的最大允许值。评定方法是指对光学元件表面缺陷进行评定的方法,包括评定标准、评定方法和评定结果等。
总之,ISO 10110-7:2017标准规定了光学元件表面缺陷的制图要求,包括缺陷的定义、分类、测量和制图方法等。该标准的实施可以提高光学元件的制造质量,保证光学系统的性能和稳定性。
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