ISO 21222:2020
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
发布时间:2020-01-29 实施时间:
ISO 21222:2020标准是一项表面化学分析标准,旨在规定使用原子力显微镜和双点JKR方法确定柔性材料弹性模量的程序。该标准适用于使用原子力显微镜测量柔性材料表面的弹性变形,并使用双点JKR方法计算弹性模量的情况。该标准还提供了用于评估测量结果的统计方法。
原子力显微镜是一种高分辨率显微镜,可以在纳米尺度下观察样品表面的形貌和性质。在测量柔性材料的弹性模量时,原子力显微镜可以测量样品表面的弹性变形,然后使用双点JKR方法计算弹性模量。双点JKR方法是一种常用的计算弹性模量的方法,它基于JKR理论,通过测量两个接触点之间的距离和力来计算弹性模量。
ISO 21222:2020标准规定了使用原子力显微镜和双点JKR方法测量柔性材料弹性模量的详细步骤。该标准包括样品制备、原子力显微镜测量、双点JKR方法计算弹性模量等步骤。此外,该标准还提供了用于评估测量结果的统计方法,包括重复性和可重复性的评估方法。
该标准适用于测量各种柔性材料的弹性模量,例如聚合物、橡胶、生物材料等。该标准还适用于研究柔性材料的力学性质和表面形貌。
相关标准
ISO 14644-1:2015,ISO 14644-2:2015,ISO 14644-3:2019,ISO 14644-4:2001,ISO 14644-5:2004