纳米技术是当今世界上最具前沿性和发展潜力的技术之一，其应用领域涵盖了医疗、能源、材料、电子等多个领域。纳米颗粒是纳米技术的基础，其粒径和形状分布对纳米材料的性能和应用具有重要影响。因此，粒径和形状分布的测量是纳米技术研究中的重要环节。

透射电子显微镜是一种常用的纳米颗粒测量仪器，其通过透射电子的方式对样品进行成像，可以获得高分辨率的图像。ISO 21363:2020 标准规定了使用透射电子显微镜进行纳米颗粒粒径和形状分布测量的方法和要求，以确保测量结果的准确性和可重复性。

ISO 21363:2020 标准主要包括以下内容：

1.测量方法：标准规定了使用透射电子显微镜进行纳米颗粒粒径和形状分布测量的方法和步骤，包括样品制备、仪器操作和数据采集等方面的要求。

2.样品制备：标准规定了样品制备的要求，包括样品的选择、制备和处理等方面的要求，以确保样品的质量和可靠性。

3.仪器校准：标准规定了透射电子显微镜的校准要求，包括透射电子束的对准、透射电子显微镜的调整和校准等方面的要求，以确保测量结果的准确性和可重复性。

4.数据处理：标准规定了数据处理的要求，包括数据的收集、处理和分析等方面的要求，以确保测量结果的准确性和可靠性。

总之，ISO 21363:2020 标准为纳米颗粒粒径和形状分布的测量提供了一套完整的方法和要求，可以帮助研究人员获得准确、可靠的测量结果，为纳米技术的研究和应用提供有力支持。

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