ISO 25178-72:2017/Amd 1:2020
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 72: XML file format x3p — Amendment 1
发布时间:2020-09-09 实施时间:


表面纹理是指物体表面的微小起伏和凹凸不平的程度和方向。表面纹理对于许多工业应用非常重要,例如在汽车制造、航空航天、医疗器械和电子设备等领域。因此,表面纹理的测量和描述是非常必要的。

ISO 25178-72:2017/Amd 1:2020标准规定了一种x3p文件格式,用于存储和传输表面纹理数据。x3p文件格式是一种基于XML的格式,可以存储表面纹理数据、测量参数和其他相关信息。该文件格式可以在不同的软件和设备之间进行交换和共享,从而实现数据的互操作性。

该标准还规定了一些数据元素和属性,用于描述表面纹理数据。这些数据元素包括表面形状、表面纹理参数、测量参数、数据质量和其他相关信息。这些数据元素和属性可以帮助用户更好地理解和分析表面纹理数据。

此外,该标准还规定了一些数据处理方法和算法,用于计算表面纹理参数。这些参数包括表面粗糙度、峰谷高度、峰谷间距、峰谷曲率等。这些参数可以帮助用户更好地理解表面纹理的特征和性质。

ISO 25178-72:2017/Amd 1:2020标准的修订版增加了一些新的功能,例如支持多个表面的测量数据、支持多个测量参数和数据质量指标、支持多种数据格式和单位等。这些新的功能可以帮助用户更好地处理和分析表面纹理数据。

相关标准
- ISO 25178-2:2012 表面纹理测量方法
- ISO 4287:1997 表面粗糙度参数
- ISO 13565-2:1996 表面形状测量
- ISO 16610-31:2016 表面纹理测量术语和定义
- ISO 16610-71:2016 表面纹理测量数据处理方法