阵列超声检测是一种非破坏检测技术，它使用多个超声探头来发送和接收超声波信号，以检测材料中的缺陷和其他问题。阵列超声检测可以提供更准确、更可靠的检测结果，因为它可以同时检测多个角度和位置的缺陷。该技术在航空航天、汽车、船舶、建筑、电力、石油和天然气等行业中得到广泛应用。

ISO 23243:2020标准定义了阵列超声检测中使用的术语和定义。这些术语和定义包括以下内容：

1. 阵列超声探头：由多个单元组成的超声探头，可以控制超声波的发射和接收。

2. 阵列超声成像：使用阵列超声探头生成的超声图像。

3. 阵列超声检测：使用阵列超声探头进行的非破坏检测。

4. 阵列超声成像系统：用于控制阵列超声探头的设备和软件。

5. 阵列超声成像分辨率：阵列超声成像中能够分辨的最小缺陷尺寸。

6. 阵列超声成像深度：阵列超声成像中能够检测到的最大深度。

7. 阵列超声成像灵敏度：阵列超声成像中能够检测到的最小缺陷尺寸。

8. 阵列超声成像信噪比：阵列超声成像中信号和噪声的比率。

9. 阵列超声成像分布：阵列超声成像中缺陷的分布情况。

10. 阵列超声成像分析：对阵列超声成像结果进行分析和解释。

除了上述术语和定义外，该标准还包括其他与阵列超声检测相关的术语和定义。这些术语和定义可以帮助人们更好地理解和使用阵列超声检测技术。

相关标准
ISO 18563-1:2015 非破坏检测-超声检测-第1部分：通用原则
ISO 18563-2:2015 非破坏检测-超声检测-第2部分：阵列超声检测
ISO 16809:2016 非破坏检测-超声检测-使用相控阵技术的超声检测
ISO 13588:2012 非破坏检测-术语
ISO 9712:2012 非破坏检测-资格和认证的要求