表面化学分析是一种非常重要的分析方法，可以用于研究材料表面的化学成分、结构和性质。其中，X射线光电子能谱是一种常用的表面化学分析技术，可以用于分析材料表面的元素组成、化学键状态和表面污染等信息。然而，在进行XPS测量时，表面污染的碳化合物往往会对测量结果产生干扰，从而影响分析结果的准确性和可靠性。

为了解决这个问题，ISO 22581:2021提出了一些规定，以帮助分析人员更好地识别和纠正表面污染的碳化合物。具体来说，该标准规定了以下几点要求：

1. 确定碳化合物的存在：在进行XPS测量之前，需要对样品进行预处理，以去除表面污染物。如果在测量过程中发现了碳化合物的存在，需要进行进一步的分析和修正。

2. 识别碳化合物的类型：根据XPS测量结果，可以确定碳化合物的类型和含量。如果需要进一步分析，可以使用其他表面化学分析技术，如时间飞行质谱（TOF-SIMS）等。

3. 纠正碳化合物的影响：根据XPS测量结果，可以计算出碳化合物对测量结果的影响。然后，可以使用一些纠正方法，如内标法、外标法等，来消除这种影响。

除了上述要求之外，ISO 22581:2021还提供了一些实时信息，以帮助分析人员更好地理解和解释XPS测量结果。这些信息包括：

1. XPS测量的基本原理和操作方法。

2. XPS测量结果的基本参数和单位。

3. XPS测量结果的解释和分析方法。

总之，ISO 22581:2021是一项非常重要的表面化学分析标准，可以帮助分析人员更好地识别和纠正表面污染的碳化合物，从而获得更准确和可靠的分析结果。

相关标准
- ISO 14976:2019 表面化学分析- X射线光电子能谱（XPS）- 数据处理
- ISO 18115-1:2016 表面化学分析- X射线光电子能谱（XPS）- 高分辨率测量
- ISO 18115-2:2016 表面化学分析- X射线光电子能谱（XPS）- 低分辨率测量
- ISO 18116:2014 表面化学分析- X射线光电子能谱（XPS）- 校准方法
- ISO 19318:2015 表面化学分析- X射线光电子能谱（XPS）- 术语和定义