HY/T 038-1995
GTL-D 型膜孔测定仪
发布时间:1995-02-20 实施时间:1995-07-01


GTL-D型膜孔测定仪是一种用于测定膜孔直径、膜孔密度和膜孔分布的仪器。该仪器主要由光学显微镜、图像采集系统、计算机控制系统和样品台等组成。通过对样品进行显微观察和图像处理,可以得到膜孔的直径、密度和分布情况。

该标准规定了GTL-D型膜孔测定仪的技术要求、检验方法、使用方法和维护保养等内容。其中,技术要求包括仪器的基本参数、光学系统、图像采集系统、计算机控制系统和样品台等方面的要求。检验方法主要包括仪器的外观检查、性能检查和精度检查等方面的内容。使用方法主要包括仪器的操作流程、样品的制备和测量等方面的内容。维护保养主要包括仪器的日常维护、故障排除和安全注意事项等方面的内容。

在使用GTL-D型膜孔测定仪进行膜孔测量时,需要注意以下几点:

1. 样品的制备应符合要求,避免样品表面存在杂质和污染物。

2. 仪器的操作流程应按照说明书进行,避免误操作和操作不当。

3. 测量结果应进行统计分析,得出平均值和标准差等参数。

4. 仪器的维护保养应按照说明书进行,避免因维护不当导致仪器性能下降或故障。

GTL-D型膜孔测定仪广泛应用于膜材料、纳米材料、生物材料等领域,具有测量精度高、操作简便、数据处理快速等优点。

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