一、范围
本标准适用于波长色散x射线荧光光谱（WDXRF）分析方法的基本原理、仪器设备、样品制备、质量控制、仪器校准、数据处理等方面的要求。

二、引用标准
GB/T 6682 分析化学实验室水质规范和评价要求
GB/T 8170 数字表示法和圆整规则
GB/T 12182 X射线荧光光谱分析方法
GB/T 19582 X射线荧光光谱分析中的质量控制和保证
GB/T 20123 X射线荧光光谱分析中的仪器校准

三、术语和定义
本标准中使用的术语和定义与GB/T 12182相同。

四、基本原理
WDXRF是一种利用样品中元素吸收x射线的能量差异来分析样品中元素成分的方法。样品受到x射线的激发后，样品中的元素会发射出特定波长的荧光x射线，荧光x射线的波长与元素种类有关，通过测量荧光x射线的强度和波长，可以确定样品中元素的含量。

五、仪器设备
WDXRF分析仪应具有以下基本性能：
1. 具有较高的分辨率和较低的检出限；
2. 具有较高的稳定性和重复性；
3. 具有较高的分析速度和自动化程度；
4. 具有较高的样品适应性和分析范围。

六、样品制备
样品制备应符合GB/T 12182的要求，同时应注意以下事项：
1. 样品应充分研磨和混匀，以保证样品的均匀性；
2. 样品应尽量避免受到污染和氧化；
3. 样品应尽量避免受到辐射和热效应。

七、质量控制
质量控制应符合GB/T 19582的要求，同时应注意以下事项：
1. 定期进行质量控制样品的分析，以保证分析结果的准确性和可靠性；
2. 定期进行仪器性能测试和校准，以保证仪器的稳定性和重复性；
3. 定期进行人员培训和考核，以保证分析人员的技能和水平。

八、仪器校准
仪器校准应符合GB/T 20123的要求，同时应注意以下事项：
1. 校准应定期进行，以保证仪器的准确性和可靠性；
2. 校准应包括仪器本底、能量刻度、荧光强度校准等方面；
3. 校准应由专业人员进行，校准记录应详细记录并保存。

九、数据处理
数据处理应符合GB/T 12182的要求，同时应注意以下事项：
1. 数据处理应包括荧光强度的计算、元素含量的计算等方面；
2. 数据处理应由专业人员进行，处理结果应详细记录并保存；
3. 数据处理应包括数据的统计分析和质量控制等方面。

相关标准
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