扫描探针显微镜（SPM）是一种利用探针在样品表面扫描的显微镜，可以实现对样品表面形貌、表面成分、表面电学性质等方面的研究。SPM分析方法的通则包括以下方面的要求：

1. 样品制备
样品制备应根据具体研究目的进行选择，保证样品表面光洁度、平整度等方面的要求。对于需要进行化学修饰的样品，应根据具体情况进行处理。

2. 扫描参数设置
扫描参数设置应根据具体研究目的进行选择，包括扫描速度、扫描范围、扫描线数等方面的要求。在设置扫描参数时，应考虑到探针与样品之间的相互作用，保证扫描结果的准确性和可重复性。

3. 数据处理
数据处理应根据具体研究目的进行选择，包括图像处理、数据分析等方面的要求。在进行数据处理时，应考虑到噪声、漂移等因素的影响，保证数据处理结果的准确性和可靠性。

4. 结果报告
结果报告应包括样品信息、扫描参数、数据处理方法、结果分析等方面的内容。在结果报告中，应注明数据处理结果的可靠性和准确性，并对结果进行解释和分析。

本标准的实施可以提高SPM分析方法的准确性和可重复性，为SPM在材料科学、生物医学等领域的应用提供技术支持。

相关标准
- GB/T 2918-1998 扫描电子显微镜分析方法通则
- GB/T 20123-2006 原子力显微镜分析方法通则
- GB/T 20124-2006 电子探针显微镜分析方法通则
- GB/T 20125-2006 透射电子显微镜分析方法通则
- GB/T 20126-2006 扫描透射电子显微镜分析方法通则