多晶体X射线衍射是一种常用的材料结构分析方法，广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。本标准旨在规范多晶体X射线衍射方法的实验操作，确保测量结果的准确性和可靠性。

1.基本原理
多晶体X射线衍射是利用晶体中原子排列的周期性结构对入射X射线进行衍射的现象来确定晶体结构的一种方法。当入射X射线与晶体中的原子相互作用时，会发生散射现象，形成衍射图样。通过对衍射图样的分析，可以确定晶体的晶格常数、晶体结构、晶体缺陷等信息。

2.实验装置
多晶体X射线衍射实验装置主要包括X射线发生器、样品支架、X射线检测器和数据采集系统等部分。其中，X射线发生器产生入射X射线，样品支架用于固定样品，X射线检测器用于检测衍射信号，数据采集系统用于记录和处理衍射数据。

3.样品制备
样品制备是多晶体X射线衍射实验的关键步骤之一。样品应该具有足够的晶体质量和适当的晶体尺寸，以保证测量结果的准确性和可靠性。样品制备的具体方法包括晶体生长、粉末衍射、薄膜制备等。

4.测量条件
多晶体X射线衍射实验的测量条件包括入射X射线波长、入射角、样品旋转角度、测量时间等。这些条件应该根据样品的特性和测量目的进行选择和优化，以获得最佳的测量结果。

5.数据处理和分析
多晶体X射线衍射实验得到的衍射数据需要进行处理和分析，以获得有关晶体结构的信息。数据处理和分析的方法包括峰位测量、峰形分析、晶格常数计算、结构因子计算等。

相关标准
GB/T 6900-2006 X射线衍射分析方法
GB/T 6901-2006 X射线衍射仪
GB/T 6902-2006 X射线衍射样品制备方法
GB/T 6903-2006 X射线衍射数据处理方法
GB/T 6904-2006 X射线衍射结构分析方法