：
数字锁相环是一种广泛应用于通信、计算机、测量等领域的电路，它可以将输入信号与参考信号进行比较，从而实现信号的同步和频率的稳定。CC4046型CMOS数字锁相环是一种常用的数字锁相环芯片，具有低功耗、高精度、高稳定性等优点，被广泛应用于各种电子设备中。

SJ/T 10253-1991半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范主要包括以下内容：

1. 技术要求：规定了CC4046型CMOS数字锁相环的工作电压、工作温度、输入电平、输出电平、输出频率等技术要求。

2. 性能指标：规定了CC4046型CMOS数字锁相环的频率稳定度、相位噪声、抖动、锁定时间等性能指标。

3. 试验方法：详细描述了CC4046型CMOS数字锁相环的试验方法，包括静态电特性试验、动态电特性试验、环路稳定性试验等。

4. 检验规则：规定了CC4046型CMOS数字锁相环的检验规则，包括外观检验、电气性能检验、环路稳定性检验等。

5. 标志、包装、运输和贮存：规定了CC4046型CMOS数字锁相环的标志、包装、运输和贮存要求，以确保产品的质量和可靠性。

SJ/T 10253-1991半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范的制定，对于保证数字锁相环产品的质量和可靠性具有重要意义。同时，该规范也为数字锁相环的研发和应用提供了参考依据。

相关标准：
GB/T 1019-2008 半导体集成电路引脚配置图符号
GB/T 10191-2015 半导体集成电路封装规范
GB/T 12668.1-2013 半导体集成电路数字模拟混合信号电路测试方法 第1部分：一般规定
GB/T 12668.2-2013 半导体集成电路数字模拟混合信号电路测试方法 第2部分：数字电路测试方法
GB/T 12668.3-2013 半导体集成电路数字模拟混合信号电路测试方法 第3部分：模拟电路测试方法