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中小规模数字集成电路静态参数测试仪是一种用于测试数字集成电路静态参数的仪器设备。该设备主要用于测试数字集成电路的静态参数，如输入电阻、输出电阻、输入电容、输出电容、输入电流、输出电流等参数。该设备具有测试速度快、测试精度高、测试结果可靠等优点，广泛应用于电子工业、通信工业、计算机工业等领域。

该标准规定了中小规模数字集成电路静态参数测试仪的技术要求、性能指标、检验方法、标志、包装、运输和贮存等方面的内容。其中，技术要求包括设备的结构、工作原理、测试范围、测试精度、测试速度、稳定性、可靠性等方面的要求；性能指标包括设备的测试精度、测试速度、稳定性、可靠性等方面的指标；检验方法包括设备的外观检验、功能检验、性能检验等方面的方法；标志包括设备的名称、型号、生产厂家、生产日期等方面的标志；包装包括设备的包装材料、包装方式、包装标志等方面的要求；运输包括设备的运输方式、运输条件、运输标志等方面的要求；贮存包括设备的贮存条件、贮存期限、贮存标志等方面的要求。

该标准的实施可以保证中小规模数字集成电路静态参数测试仪的质量和可靠性，有利于提高数字集成电路的生产效率和产品质量，促进电子工业、通信工业、计算机工业等领域的发展。

相关标准：
GB/T 10194-1988 中小规模数字集成电路静态参数测试方法
GB/T 10196-1988 中小规模数字集成电路静态参数测试仪术语
GB/T 10197-1988 中小规模数字集成电路静态参数测试仪检验规程
GB/T 10198-1988 中小规模数字集成电路静态参数测试仪标志、包装、运输和贮存
GB/T 10199-1988 中小规模数字集成电路静态参数测试仪性能指标