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半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准是一种用于校准电子测量仪器的标准器件，具有高精度、稳定性好、温度系数小等特点。本标准规定了该型号基准的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等内容，以保证其质量和可靠性。

1. 技术要求
1.1 基准器件的电压值应符合规定的标称值，并具有良好的稳定性和重复性。
1.2 基准器件的温度系数应小于等于5ppm/℃。
1.3 基准器件的漏电流应小于等于10nA。
1.4 基准器件的反向击穿电压应大于等于20V。
1.5 基准器件的封装应符合规定的要求，且具有良好的机械强度和耐热性。

2. 试验方法
2.1 电压值的测量应采用标准电压源和数字电压表进行，测量误差应小于等于0.01%。
2.2 温度系数的测量应采用恒流源和数字电压表进行，测量误差应小于等于0.01%。
2.3 漏电流的测量应采用高阻电压表进行，测量误差应小于等于0.1%。
2.4 反向击穿电压的测量应采用标准击穿电压源进行，测量误差应小于等于0.5%。

3. 检验规则
3.1 基准器件应符合技术要求中的各项指标。
3.2 检验应在标准温度下进行，即25℃。
3.3 检验应在规定的时间内完成，以避免长时间暴露在环境中对基准器件的影响。

4. 标志、包装、运输和贮存
4.1 基准器件应在外包装上标明型号、规格、生产厂家、生产日期等信息。
4.2 基准器件应采用防静电包装，并在包装上标明防静电标志。
4.3 基准器件应在运输和贮存过程中避免受到机械振动、湿度、温度等不利影响。
4.4 基准器件的贮存期限为两年，应存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。

相关标准：
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分：试验Ea和Eb：温度变化试验方法