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半导体集成电路是现代电子技术中的重要组成部分，而与非门则是半导体集成电路中的基本逻辑门之一。SJ/T 10042-1991标准规定了CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存。

该标准规定了CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门的主要技术要求，包括电气特性、静态参数、动态参数、温度特性、电源电压、输入电压、输出电流等。其中，电气特性是指在规定的电源电压和温度条件下，与非门的输入电压和输出电流之间的关系；静态参数是指与非门在输入电压为0或1时的输出电平；动态参数是指与非门在输入电压变化时的响应速度和输出电平的变化情况；温度特性是指与非门在不同温度下的电气特性变化情况。

此外，该标准还规定了CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门的检验方法，包括外观检验、电气性能检验、可靠性检验等。其中，可靠性检验是指对与非门在长时间使用过程中的可靠性进行检验，包括高温、低温、湿热、温度循环、静电放电等方面的检验。

标准还规定了CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门的标志、包装、运输和贮存要求。其中，标志是指在与非门上标注的相关信息，如型号、生产厂家、批号等；包装是指将与非门装入适当的包装盒或袋中，以保护其不受损坏；运输是指将包装好的与非门运输到用户处的过程；贮存是指将与非门存放在适当的环境中，以保证其性能不受影响。

综上所述，SJ/T 10042-1991标准规定了CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存，为半导体集成电路的生产和使用提供了重要的参考依据。

相关标准：
GB/T 2977-2008 半导体集成电路封装
GB/T 2978-2008 半导体集成电路标志、包装、运输和贮存
GB/T 2979-2004 半导体集成电路电气特性试验方法
GB/T 2980-2007 半导体集成电路静态参数试验方法
GB/T 2981-2007 半导体集成电路动态参数试验方法